簡要描述：38DL PLUS超聲波測厚儀是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測。

38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進(jìn)行非常Precise的厚度測量。

38DL PLUS超聲測厚儀：性能高級、操作簡便、堅固耐用、結(jié)果可靠

•可與雙晶和單晶探頭兼容。
•寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
•使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
•穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
•內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
•對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
•使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
•多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層同時進(jìn)行測量。
•高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
•厚度、聲速和渡越時間測量。
•差分模式和縮減率模式。
•時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
•帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
•用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
•設(shè)計符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
38DL PLUS超聲波測厚儀與其他測厚儀有何不同？
38DL PLUS測厚儀的設(shè)計宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結(jié)實的測厚儀器，那么，符合IP67評級標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器
38DL PLUS數(shù)據(jù)記錄器和PC機(jī)接口
38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。
•內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形。
•32位字符的文件名稱。
•20位字符的ID# （TML#）編碼。
•9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
•每個ID# （TML）編碼可多存儲4個注釋。
•注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
•內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
•可以在內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
•標(biāo)準(zhǔn)USB和RS-232通信。
•單晶和雙晶探頭設(shè)置的雙向傳輸。
•機(jī)載統(tǒng)計報告。
•機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
•GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息。
•可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導(dǎo)出到MicroSD存儲卡

機(jī)載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。

GageView™

•基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
•創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
•編輯所存數(shù)據(jù)。
•顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值。
•從測厚儀上下載厚度測量總結(jié)，或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
•將測量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其他程序。
•收集捕獲的屏幕。
•打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告。
•升級操作軟件。
•下載和上傳單晶和雙晶探頭設(shè)置文件。
•B掃描回顧

測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、min值/max值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應(yīng)用、溫度補(bǔ)償、平均值/min值模式

38DL PLUS技術(shù)規(guī)格

測量 雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的Precise?延時到*個回波之間的時間間隔。 穿透涂層測量模式 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。 穿透漆層回波到回波測量模式 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 單晶探頭測量模式 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。 厚度范圍 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 材料聲速范圍 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs 分辨率（可選擇） 低分辨率：0.1毫米
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項）：0.001毫米 探頭頻率范圍 標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

抵抗惡劣環(huán)境

•袖珍型，僅重0.814公斤。
•堅固耐用，設(shè)計符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
•爆炸性氣氛：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試，可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作。
•防撞擊測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。
•防振動測試：通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
•寬泛的工作溫度范圍。
•帶有支架的橡膠保護(hù)套。
•彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和戶外顏色設(shè)置，具有的清晰度

戶外顯示設(shè)置：A掃描模式                                              室內(nèi)顯示設(shè)置：B掃描模式

•可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
•可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
•內(nèi)置和外置MicroSD存儲卡。
•USB和RS-232通訊端口。
•可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
•可連接計算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
•默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
•默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
•密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。

38DL PLUS測厚儀的一個主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中Most often?使用的是雙晶探頭。

•用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
•10個自定義雙晶探頭設(shè)置。
•校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
•用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
•校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時使用的校準(zhǔn)加倍功能。
•用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
•高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
•鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。
•EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。

穿透涂層技術(shù)：使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補(bǔ)償：材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的Precise性。用戶使用溫度補(bǔ)償功能可以手動輸入校準(zhǔn)試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量：38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預(yù)測管件的壽命。建議在此項應(yīng)用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補(bǔ)償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設(shè)置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用，用戶只需校準(zhǔn)并輸入已知厚度值（min3個校準(zhǔn)點(diǎn)；max10個校準(zhǔn)點(diǎn)），儀器就會創(chuàng)建V聲程補(bǔ)償曲線。

38DL PLUS自動探頭識別：所有標(biāo)準(zhǔn)的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。

高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。

多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達(dá)4個不同層的厚度測量值，這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應(yīng)用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預(yù)成型坯及軟性隱型眼睛進(jìn)行的厚度測量。

對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以Precise測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的極其Precise?的厚度測量。
•對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
•在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
•高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
•多層軟件選項可對多達(dá)4個不同層的厚度同時進(jìn)行測量。
•測量厚度、聲速或渡越時間。
•帶有默認(rèn)和自定義設(shè)置的自動調(diào)用應(yīng)用簡化了厚度測量。

38DL PLUS標(biāo)準(zhǔn)配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭套裝盒
•充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
•內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
•GageView接口程序
•試塊和耦合劑
•USB線纜
•橡膠保護(hù)套，帶有支架和頸掛帶
•用戶手冊
•兩年有限擔(dān)保

38DL PLUS軟件選項

38DLP-OXIDE （U8147014）：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。
38DLP-HR （U8147015）：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM （U8147016）：使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP （U8147017）：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。

38DL PLUS選購附件

38DLP/EW （U8778348）：3年保修。
1/2XA/E110 （U8767104）：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 （U8840167）：RS-232線纜
38-C-USB-IP67 （U8800998）：USB線纜，用于符合IP67標(biāo)準(zhǔn)的密封操作。
38DLP/RFS （U8780288）：腳踏開關(guān)，廠內(nèi)安裝。
HPV/C （U8780124）：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進(jìn)行厚度輸入。
38DLP-V-CC （U8840172）： 數(shù)字式卡尺線纜。
38DLP/BCW/NC （U8780289）：棒材編碼讀取器。
EPLTC-C-VGA-6 （U8840035）：VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB （U8779307）：2 GB外置MicroSD存儲卡。